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细小电阻测试计划

体系背景

      电阻测试是表征资料特征的最常常利用测试手腕,在某些利用中,用户须要停止极度细小电阻(Ultra-low resistance)测试,比方纳米资料,超导资料,继电器开关,低电阻资料、毗连器的测试,或紧密的热量测定和研讨范畴。这些被测件凡是具备很是高的导电性和很是小的电阻阻值,对测试毗连计划有很大挑衅。在停止这类资料和器件的测试进程中,为了最大限制的下降被测装备的自热效应,确保待测件的宁静和丈量的切确性,凡是会利用加流测压的体例,在被测物两头施加可控的细小紧密电流旌旗灯号,经由进程欧姆定律测定被测件的电阻阻值。

上图为熔化断(duan)(duan)裂(lie)的纳米管,因为施加电流过大自热引(yin)发断(duan)(duan)裂(lie)

 

       在细小(xiao)电(dian)阻(zu)(zu)测(ce)试范畴(chou),泰(tai)克公司供给的细小(xiao)电(dian)阻(zu)(zu)测(ce)试计划,经由进(jin)程(cheng)利用吉时利高精(jing)度(du)电(dian)流(liu)源622X(100fA~100mA 输入可调)或2400系(xi)列源表,和(he)纳(na)伏表2182A(1nV活(huo)络度(du))组(zu)分解为完全的测(ce)试处置计划,完善处置了(le)在细小(xiao)电(dian)阻(zu)(zu)测(ce)试进(jin)程(cheng)中常常碰到的题目(mu),使(shi)电(dian)阻(zu)(zu)丈量活(huo)络度(du)高达(da)10nΩ。

       共(gong)同泰(tai)克公司计划协作(zuo)火伴供(gong)给(ji)的(de)上位机软件和(he)测(ce)试(shi)夹具,能够一站式处置用户在仪表与(yu)待(dai)测(ce)件毗连(lian),测(ce)试(shi)成果(guo)存储,和(he)数(shu)据(ju)阐(chan)发进程中碰到的(de)复(fu)杂题(ti)目(mu),进步测(ce)试(shi)效力(li)。

 

622X 电流源输入的电流分(fen)辩(bian)率最高(gao)能够(gou)到达100fA,能够(gou)切(qie)确节(jie)制加(jia)载在待(dai)测件(jian)两头(tou)的电流巨细,确保待(dai)测件(jian)处(chu)在宁静状况下

 

• 更进(jin)步前辈的测试方式,消弭(mi)热(re)电动势

能(neng)够利用Delta Mode形式消弭,主动触发电流源使旌旗(qi)灯(deng)号(hao)极做爱(ai)替变(bian)更,电流反(fan)向法消弭了(le)任何(he)恒定的(de)热电平衡,确(que)保丈(zhang)量(liang)(liang)成果(guo)反(fan)应实在(zai)电压值,大幅度下降丈(zhang)量(liang)(liang)中的(de)噪声旌旗(qi)灯(deng)号(hao)

 

 

• 交钥匙计划设想,能够供给完全的测试夹具计划和上位机数据收罗处置软件


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